簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共5筆資料 檢索策略: "電機工程系".dept (精準) and ckeyword.raw="記憶體"


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    1

    內建分散分析改善嵌入式記憶體良率
    • /103/ 碩士
    • 研究生: 林浩暐 指導教授: 呂學坤
    • 近年來,超大型積體電路 (VLSI) 技術的快速發展使得電晶體的數量與記憶體細胞密度顯著增加,這個結果已經嚴重威脅到記憶體陣列的良率與可靠度,使得良率明顯下降。因此故障分散 (Fault Scram…
    • 點閱:244下載:18

    2

    結合硬體修復與錯誤修正碼提升嵌入式記憶體良率與可靠度技術
    • /103/ 碩士
    • 研究生: 蔡政儒 指導教授: 呂學坤
    • 錯誤修正碼與內建自我修復 (BISR) 技術被廣泛的用來改善記憶體良率與可靠度。而這兩個技術主要處理的錯誤與瑕疵分別為永久瑕疵 (硬錯誤) 與軟錯誤。在過去有許多研究探討如何使用錯誤修正碼與 BIS…
    • 點閱:766下載:18

    3

    使用部分時間冗餘技術提升嵌入式記憶體之可靠度和良率
    • /105/ 碩士
    • 研究生: 鄭筠騰 指導教授: 呂學坤
    • 近年來,錯誤修正碼 (ECC) 技術與內建自我修復 (BISR) 技術皆被廣泛地使用來提升記憶體的良率與可靠度。錯誤修正碼技術以及內建自我修復技術主要分別用來處理軟錯誤與硬錯誤。而在過去有許…
    • 點閱:271下載:8

    4

    在多立方體結構下之矩陣相乘
    • /80/ 碩士
    • 研究生: 柴沐光 指導教授: 洪西進 王有禮
    • 在本論文中,我們將考慮在多立方體結構(Hypercube multiprocessor)下計算一般化的矩陣相乘。已有許多研究人員針對不同的計算機結構設計出方陣(square matrix)相乘的平行…
    • 點閱:136下載:0
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    5

    先進記憶體之良率與可靠度改善技術
    • /102/ 碩士
    • 研究生: 林書菱 指導教授: 呂學坤
    • 隨著製程進步電晶體縮小,使得記憶體密度提高之外,也造成良率與可靠度的下降,提升良率與可靠度也是先進記憶體有待改善的共同課題。本篇論文針對兩種新興的記憶體组 NROM 及 PCM 提出良率與可靠度的改…
    • 點閱:309下載:7
    1